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  장비명실물영상현미경(Stereo microscope)

  용도고해상 실물 영상 관찰

  규격

  • - 줌배율 : 7:1
  • - 배율 : 0.8X ~ 5.6X

• 

  장비명저진공 주사전자현미경 및 에너지 분광분석기(SEM/EDS)

  용도종이 구조, 표면, 단면관찰 및 사진판독

  규격

  • - 분해능
    1) 고진공 모드 : 3nm at 30KV 보증 또는 그이상, 10nm at 3KV 보증 또는 그이상, 15nm at 1KV 보증 또는 그이상
    2) 저진공 모드 : 4nm 보증 또는 그이상
  • - 배율 : ×5 to ×300,000 또는 넓은 범위

• 

  장비명화상분석장치(Image Analyzer System)

  용도표면 관찰 및 이미지 분석

  규격

  • - 접촉-비접촉식 렌즈 : X40 ~ X300
  • - 비접촉식 대물렌즈 : X600 ~ X2400